MoSi2发热元件在不同气氛中使用损毁分析
刘新红1),宋煜伟2),杨金松3),朱晓燕1),马腾1)
. 2014, (5): 327 -330 .  DOI: 10.3969/j.issn.1001-1935.2014.05.002